2026국제학술지J49
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
Online temperature monitoring system for semiconductor automated test equipment using local Gaussian process
국소 가우시안 프로세스를 이용하여 반도체 자동 검사 장비의 온도를 모니터링합니다.
39(2), 256–265
졸업생 · POSTECH
진로·소속: Assistant Professor, Hongik University
국소 가우시안 프로세스를 이용하여 반도체 자동 검사 장비의 온도를 모니터링합니다.
39(2), 256–265
55(12), 1242–1255
11, 91407–91422
397–408
Working-paper record · 2023