국제학술지

Patch-based Memory Gate Model in Time Series Foundation Model

Yoon, S.1; Kim, J.; Ha, J.; Ko, Y. M.*

주저자(제1저자) 교신저자굵게 · 밑줄 LST Lab. 구성원(졸업생 포함)
Research summary

어떤 질문을 다루나요?

정상 패턴을 기억하는 패치 단위 메모리를 시계열 파운데이션 모델에 결합하여 이상 탐지를 연구합니다.

인용 정보

Yoon, S.1; Kim, J.; Ha, J.; Ko, Y. M.* (2026). Patch-based Memory Gate Model in Time Series Foundation Model. TMLR, Transactions on Machine Learning Research · 2026.
BibTeX
@article{LST_momemto_2026,
  title = {Patch-based Memory Gate Model in Time Series Foundation Model},
  author = {Yoon, S. and Kim, J. and Ha, J. and Ko, Y. M.},
  journal = {TMLR},
  year = {2026},
  url = {https://arxiv.org/abs/2509.18751}
}

함께한 연구실 구성원